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<正> 一、前言随着在各个领城里对光学仪器提出的不同要求,正开始制造各种用非球面透镜的光学系统。特别是重量轻构造简单并且在性能上要求视野广、口径大的光学系统中,为了减少像差在光学系统中若不用非球面透镜,在很多情况下是达不到减少像差的目的的。另一方面,最近由于塑料及其加工技术的进步,光学元件塑料化正在显著的发展。随着这种发展,用
<正> 外螺纹的测量和检查是比较容易。由于从外面容易接近螺纹,因而利用外卡规便可测量中径及内外直径,在精密螺纹测量仪上用两线或三线法就是一例。此外,利用光学投影仪可观察外螺纹轮廓,以评定螺纹跳动、牙形及表面光洁度。
<正> 一、引言过去已经推荐过几种测量激光光束直径的技术。除扫描刀口技术外,这些方法都不是直接测量光束轮廓的,而用假设激光器在基模上(TEM_(oo))的振荡来表示光束的直径。此外,这些方法都只提供了一维的光束尺寸信息。本文描述了一种新装置,即振动十字叉丝(VCH),它能直接测量并显示激光束沿着两个垂直方向的横向强度分布。发展这种扫描器
<正> 对于检验螺旋线实体的测量装置来说,其精密直线导轨和直度实体(以下称导轨和实体)的直度偏差,在 X、Y 两个坐标内要以0.05μm的准确度来确定。为了避免附加的未知系统误差,应该通过作用合理的检验来完成。因此,没有采用干涉测量法。而是采用已知测量装置中的精密电子指示器的机械接触来实现。精密指示器被固定在100mm 长的气浮支承导轨的测量滑板上。100mm 长的直度实体则是由六个相互平行的研磨平面1～6所组成(图1)。
<正> 用三坐标测量机进行形状测量的情形,由于移动工作台和测头进行测量,X,Y 和 Z 轴的位置准确度和各轴的运动准确度(也称几何准确度,即与机械各部的几何直线运动的偏差)等的机械本身的结构上的误差作为测量误差表现出来。这种误差,一般地分系统误差和随机
<正> 一、旋光测量原理旋光计测量的是一个线偏振光通过试样引起的偏振面转过的角度。这个角度值是试样和光的许多性质的函数。在试样上起决定作用的性质包括分子的光学活性、光激活分子的密度、温度、光程长度和相对于光束的对准。光的关键的性质是准直性(发散光在试样中经过不同的光程长度)、单色性和偏振性。
<正> 目前国外量具品种发展迅速,就拿千分尺来说,作者曾在本刊1983年第5期上介绍了"电子数显千分尺",这只是许多结构型式中的一种。本文将介绍另一种由日本三丰制作所坂田秀夫和高桥诚悟发明的千分尺。这种千分尺由电机等驱动源带动测杆移动,其棘轮机构设计与过去的千分尺不同,在连续测量时,操作比较方便,具有快动的特点,电机等驱动源对被测物的压力可以根据测
<正> 一、加工过程的表面检测为了检验工件质量,对工作面的表面粗度作连续测定是很重要的,因为曲柄轴承的滑动性能和钢板表面的性能(在深冲时保持薄薄一层油膜)与其测定有关。目前常用的触针式仪器检测相当费时间,而且只适宜抽样检验。另一个缺点是,线性触测虽然能准确给出表面轮廓和大量有关粗度的参数,但往往不可能获得
<正> 一、前言为测量一个物体的表面轮廓,通常采用可见光或莫尔条纹干涉测量法,但这种方法的可测范围有限制,前一种方法在10个波长的可测区域内具有高灵敏度,仅仅适用于反射镜表面,而后一种方法在 mm～cm 的可测区域内灵敏度仅为万分之一量级,精密测量几乎不可能。所以,在工业上用这两种方法测量的物件将受到限制。为此要求有一种方法其灵敏度和
<正> 在工业上热电偶被广泛用于温度测量和一些非电量(位移、速度、流量)的测量。在参考端温度不变的条件下,热电偶的热电动势是工作端温度的单值函数。但是,在实践中很难严格满足这一要求,特别是在生产条件下进行测量时,由于周围介质温度不稳定所引起的热电偶参考端温度变化会造成较大的误差,这些误差必须予以补偿。但是,困难在于不可能把热电偶参考端温度变化所引起的信号与热电
<正> 一、前言在1100℃以下的温度区域,辐射温度计的传递,原来是以热电偶(或电阻温度计)为标准进行的。但是这种传递方式,在实验上对于比对热电偶和辐射温度计用的黑体炉缺乏正确评价其性能的手段;所以在技术上尚不能说确立了一种传递系统。为了解决上述问题,通过日本计量研究所
<正> 高温测量与连续控温在工程、生产过程和科研中是一个十分重要,而复杂的问题。由于外界的影响引起敏感元件材料不稳定,使接触式温度计量器具(如热电偶、电阻温度计等)的应用受到了限制。因此,在高温测量中经常采用不接触方法—光学高温计和辐射高温计。但是光学高温计的测量结果带有主观性,并且不能实现自动检测,而辐射高温计难于测量小
<正> 一、引言在热力学、空气动力学和燃烧工程中,分析静止的或流动的气体以及诸如类似燃烧这样的过程时,必需掌握密度、浓度、温度及气流速度等瞬时值。另外,有了这些瞬时值还可测定其他的所谓"关键数据",诸如火焰涡流中
<正> 一、引言最近研制成一种可以将冲击加速度计校准到高于10~6m/s~2(100,000g)的校准系统。脉冲成形技术和对动量的控制使我们有可能在较宽的幅值和持续时间范围内产生半正弦加速度脉冲。可在被校传感器的线性范围内根据幅值选择脉冲,而且有足够长的持续时间和光滑的
<正> 一、引言在化学工业中,需要能测量液体密度的传感器来代替费时的手工测量,为此本文将介绍一种基于新型压电谐振元件的简易方法。这种测量液体密度的基本原理是将液体成为谐振元件的组成部分,从而改变元件的谐振频率。为了满足高精度的要求,就需检测出谐振频率的微小变化,因此谐振元件必须具有高 Q值这一点是通过对元件的正确设计来实现的。
<正> 一、引言在试验或监控用于塑性焊接、金属塑性切削加工和粉末成形一类的大功率超声装置时,常常要求以约0.2μm的准确度测量儿微米的振幅。目前已研究成功多种光学测量振幅的方法,但是,它们大都不能实时工作,而且(或者)实际使用起来相当复杂。
<正> 一、引言近年来,在动力联合企业、空间探索、环境保护、自动操纵工程、工业自动系统等科学和技术领域里进行日益深入的研究。所有这些过程都是在0.001～100 H_2频率范围内发生的。为以各种电测的方法来测量与模拟亚音频过程,人们采用了诸如信号发生器、频率计等仪器。为高质量地获得现有这些工作仪器的特性,有必要提供一用作测量保证的装置。本
<正> 一、前言在精密测量中,一般是使用手动平衡的交流电桥测量阻抗。平衡过程中。阻抗的变化必然涉及杂散电容和引线阻抗的变化。另一缺点是平衡需一定的时间。本文所述的数字式交流电桥的平衡是由微处理机控制的数字式交流源完成的。另一优点是通过全数字化设计,使其重复性和稳定性都高于通常的交流电桥。该电桥不需用开关和滑动触点。因此在整个平衡过程中,杂散电容和引线阻抗是不变的。
<正> 目前,用于查验电磁特性的自动装置没有得到应有的发展。我们研制成一种用于测量和计算坡莫合金环形铁芯磁特性的数字式高灵敏度测量系统。在该系统中,为了使计算操作自动化,使用了一种在《电子学63-21》型微型计算机基础上经过改制的微型电子计算
<正> 一、前言Cutkosky 提出的二进制分压比开关技术,可获得分压准确度约为输入的1×10~(-7)。加拿大国家研究院建立和测试了采用微计算机的13比特实验性基准分压器。如果分压器输出端的外部负载可完全计算出,则可以得到预期的准确度。本文检验了这种分压器的输出电阻。像
<正> 一、引言测定金属残余电阻率是一种为控制杂质浓度及其在各种过程中的变化而广泛采用的一种简便方法。在室温下,杂质引起的电子扩散经常远小于声子引起的电子扩散,因此通常是将试样浸入液氦那样的低温槽中测定其残余电阻率。这种测定过程在许多场合有重要局限。当
<正> 为了测量四瑞网络(其中也包括移相器)传输系数的相位,已研究出不少的方法。然而,这些主要用于厘米波段和更长波段的方法用来检验毫米波段和亚毫米波段短波部分的移相器时,误差将显著增大。这是由于上述波段的特点所造成,即测量电路微波元件内的损耗增大。例如,在改变所引入的相移过程中,移相器传输系数的模可能在1dB 的范围内改
<正> 自从发现高功率电平的高频及微波照射能对人体造成伤害,能使某些武器引爆和电子设备运转失灵以来,世界各主要工业国家都在制订电磁环境与卫生标准、开展高频及微波电磁场近场计量测试方面,进行了很多研究。本文介绍国外近场测试技术的进展情况。
<正> 太阳是 BAS 的"校准标准",也是大地上一切物体的光源,这就是 BAS 光谱光度计所具有的特点。由此可得到 BAS 的一系列有利特性,尤其是它的相对精度与太阳光谱的能量分布有关。BAS 辐照度的校准比较容易。作为辐照度测量用的检验因子 K 是通过测量宇宙光谱信号U_E(在不同透射空气质量中用太阳物镜测量太阳的直接辐射以及在空气质量 m=o 的条件下测量信号的外推值)求出的:
<正> 一、引言这一比对是由 C(?)E/IPM 在1972年召开的一次高频工作组会议上发起的。比对的目的是明确各标准研究所在它们的激光功率测量中符合得怎样。参与比对的国家是日本(ETL:日本电子技术综合研究所),美国(NBS:美国标准局),德意志联邦共和国(PTB:西德物理技术研究院)和英国(NPL:英国物理研究
<正> 一、什么是混浊度混浊度是一种相对的、定性的测量而不是定量测量,将一杯取样水放在灯光前,测定其比较清净度或混浊度来进行简单的测量。"浊度"和"悬浮固体"这二个名词常令人混淆。如果我们把一勺砂放进一杯清净水中并加以搅动,我们将见到:(1)水;(2)混浊
<正> 将旧单位改变成 SI 单位时,为了对治疗用剂量计提供以水吸收剂量为单位的校准方法,对于10～300kV 管电压的 X 射线,建立了该量的新基准。目前,在此能区内不可能在水模体内绝对测定"水吸收剂量"量。因此,新基准实际上是在模体不同于水的材料(例如石墨和有机玻璃)内"水柯玛"量的标准。作
<正> 一、引言HPA(医院物理学家协会)于1969年发表了高能光子剂量测定方法的实施规程(HPA1969),它基本上是早期规程(HPA1964)的扩展。这些规程中的设想被 ICRU(国际辐射单位和测量委员会)(1969)采纳,并规定可用于直径1cm 以下的电离室所做的测量,这些电离室对